探測(cè)器是采用具有光電效應(yīng)的材料制作的光電轉(zhuǎn)換器件。由于不同類型的材料具有不同的光譜選擇特性,因此探測(cè)器光譜響應(yīng)測(cè)試對(duì)探測(cè)器的生產(chǎn)、檢測(cè)、應(yīng)用和研究等都有重要的意義。
SSC-DSR探測(cè)器光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)可以方便、簡(jiǎn)捷地對(duì)探測(cè)器的光譜性能進(jìn)行檢測(cè)。系統(tǒng)符合國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范 JJF 1150-2006《光電探測(cè)器相對(duì)光譜響應(yīng)度校準(zhǔn)規(guī)范》規(guī)定的測(cè)試方法和測(cè)試要求,是探測(cè)器光譜響應(yīng)測(cè)試的首選設(shè)備。
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SSC-000443 | 探測(cè)器光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) | SSC-DSR | SSC-DSR探測(cè)器光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)可以方便、簡(jiǎn)捷地對(duì)探測(cè)器的光譜性能進(jìn)行檢測(cè)。 | ||||
探測(cè)器是采用具有光電效應(yīng)的材料制作的光電轉(zhuǎn)換器件。由于不同類型的材料具有不同的光譜選擇特性,因此探測(cè)器光譜響應(yīng)測(cè)試對(duì)探測(cè)器的生產(chǎn)、檢測(cè)、應(yīng)用和研究等都有重要的意義。
SSC-DSR探測(cè)器光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)可以方便、簡(jiǎn)捷地對(duì)探測(cè)器的光譜性能進(jìn)行檢測(cè)。系統(tǒng)符合國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范 JJF 1150-2006《光電探測(cè)器相對(duì)光譜響應(yīng)度校準(zhǔn)規(guī)范》規(guī)定的測(cè)試方法和測(cè)試要求,是探測(cè)器光譜響應(yīng)測(cè)試的首選設(shè)備。
絕對(duì)光譜響應(yīng)曲線(A/W或V/W);相對(duì)光譜響應(yīng)曲線;內(nèi)/外量子效率曲線(%);等效噪聲功率(NEP);比探測(cè)率(D*);響應(yīng)時(shí)間(s);線性度,以及暗電流(A)。偏置電壓下的光譜響應(yīng)度及外量子效率,指定波長(zhǎng)下的I-V特性測(cè)試。
1. 光譜范圍寬,適用面廣
寬光譜范圍可適用于各種不同樣品,如響應(yīng)在日盲區(qū)的深紫外探測(cè)器;響應(yīng)在可見光的太陽(yáng)能電池;響應(yīng)在近紅外的光纖傳感器;響應(yīng)在中遠(yuǎn)紅外的光電傳感器,都可以在本系統(tǒng)上測(cè)量光譜響應(yīng)度。
2. 監(jiān)視光路,方便樣品定位
采用監(jiān)視光路,使用高精度顯微鏡配合CCD 相機(jī)實(shí)現(xiàn)對(duì)微小器件的可視化控制,可清楚觀察暗室內(nèi)測(cè)試光斑與樣品有效區(qū)域的位置關(guān)系,配合精密位移臺(tái)實(shí)現(xiàn)樣品精確定位。
3. “TurnKey”理念,“OneKey”應(yīng)用,系統(tǒng)集成度高。
秉承“交付即使用”的“TurnKey”理念,我們將系統(tǒng)設(shè)計(jì)為高度集成結(jié)構(gòu)。在保留模塊化系統(tǒng)兼容性高和升級(jí)空間大的前提下,將眾多調(diào)整環(huán)節(jié)整合,達(dá)到無需多加調(diào)整即可使用。為免除定標(biāo)的繁瑣操作,本系統(tǒng)采用替代法進(jìn)行測(cè)試。替代法作為現(xiàn)行的國(guó)家級(jí)計(jì)量部門通用的測(cè)試方法,與傳統(tǒng)方法相比避免了對(duì)系統(tǒng)中各相關(guān)部件分別定標(biāo)的繁瑣以及多項(xiàng)誤差的引入,具有更準(zhǔn)確,更方便的特點(diǎn)。
4. 針對(duì)不同器件的結(jié)構(gòu)特點(diǎn),配置不同的測(cè)試模式,配合兩種不同的光路形式。
4.1.有效面積小的樣品,需要通過照度法進(jìn)行響應(yīng)度的測(cè)試。采用積分球勻質(zhì)光路設(shè)計(jì),光均勻度高。
在寬光譜范圍的光學(xué)設(shè)計(jì)中,采用積分球?qū)崿F(xiàn)光的勻質(zhì)輸出是一種常用的手段。積分球內(nèi)設(shè)置合理的擋板可有效防止入射光的直接出射,保證輸出光的勻質(zhì)要求。
4.2.有效面積大的樣品,可采用通量法進(jìn)行響應(yīng)度的測(cè)試。采用全反射式成像光路,可提高光利用率,增大測(cè)試信噪比。
在寬光譜范圍的光學(xué)設(shè)計(jì)中,反射式光路要比透射式光路具有更高的成像質(zhì)量。透射式光學(xué)系統(tǒng)中影響成像的重要因素是色差,其來源是不同波長(zhǎng)的輻射在光學(xué)材料中的折射率不同,波長(zhǎng)范圍越寬,色差越明顯。在反射式的光學(xué)系統(tǒng)中,由于不涉及折射,所以不存在色差。因此采用反射式光路,成像質(zhì)量會(huì)優(yōu)于透射式光路。
反射式匯聚光斑成像光路示意圖
測(cè)試系統(tǒng)暗箱內(nèi)部
測(cè)試系統(tǒng)樣品室采用暗箱避光設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),同時(shí)便于取放樣品或進(jìn)行調(diào)整操作。樣品室內(nèi)上方為主光光源出光口,出光口角度出廠前已調(diào)整好,可準(zhǔn)確照射在樣品及探測(cè)器上;通過CCD相機(jī)對(duì)暗箱內(nèi)進(jìn)行可視化控制,可清楚的觀測(cè)光斑效果,使樣品精準(zhǔn)定位;下方為可調(diào)整樣品臺(tái),樣品臺(tái)可按需定制為手動(dòng)或電控驅(qū)動(dòng),搭配我公司多種的探針臺(tái)或其他配件。這種模塊化的靈活搭配方式,適合工業(yè)、科研用戶建立多種類樣品的測(cè)試平臺(tái)。
光譜范圍 |
200nm~2500nm內(nèi)可選 |
波長(zhǎng)準(zhǔn)確性 |
±0.2nm |
光譜分辨率 |
±0.1nm |
光譜帶寬 |
0.2nm~10nm可調(diào) |
光電源電流漂移 |
<0.04%/h |
系統(tǒng)重復(fù)性 |
1% |
a) 集成分光系統(tǒng)、濾光片輪、數(shù)據(jù)采集器等參數(shù)設(shè)置功能
b) 測(cè)量項(xiàng)目選擇,掃描參數(shù)設(shè)置
c) 自動(dòng)掃描、信號(hào)放大、A/D、數(shù)據(jù)采集
d) 粗大誤差的自動(dòng)去除,通過統(tǒng)計(jì)學(xué)的數(shù)據(jù)處理手段進(jìn)一步提高了系統(tǒng)測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性
e) 多組數(shù)據(jù)對(duì)比功能
f) 圖、表文件自動(dòng)生成與顯示
g) 多種格式的數(shù)據(jù)和圖片備份和打印輸出功能
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1 |
光譜范圍(nm) |
(200-2500nm) |
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2 |
測(cè)試內(nèi)容 |
絕對(duì)光譜響應(yīng)、量子效率、等效噪聲功率NEP、暗電流pA級(jí)、最大反向電壓,短路電流,開斷電阻,暗電流-反向電壓,暗電流-環(huán)境溫度,響應(yīng)溫度系數(shù),增益,一致性(Mapping) |
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3 |
樣品種類 |
(光電二極管、雪崩二極管等) |
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4 |
樣品材質(zhì) |
(硅、銦鎵砷、鍺等) |
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5 |
樣品極數(shù) |
(二級(jí)、三級(jí)) |
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7 |
樣品封裝方式 |
(裸片、TO5、TO8等) |
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8 |
光敏面尺寸 |
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9 |
是否需要電偏置 |
電偏置電壓范圍(V) |
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10 |
測(cè)試模式 |
(交流、直流、交/直流切換;電動(dòng)、手動(dòng)) |
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11 |
附件需求 |
(平臺(tái),電腦,打印機(jī),備用燈泡等) |
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12 |
是否提供電池樣品、照片或尺寸圖等 |
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13 |
其他要求 |
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根據(jù)不同的需求進(jìn)行配置,報(bào)價(jià)區(qū)間25-80萬(wàn)元左右。 |